Fluke Ti40FT / Ti45FT

Fluke Ti40FT / Ti45FT

Цена по запросу

Описание:

Модели Fluke Ti40FT, Fluke Ti45FT обладают буквально всеми возможностями, требуемыми для выполнения термографических исследований. С детектором размерами 160 x 120 пикселов и эквивалентной шумовой тепловой чувствительностью (NETD) 0,08 ºC они обеспечивают высокое разрешение изображений и позволяют выявить весьма малые различия по температуре. Простота в использовании приборов и широкие возможности анализа полученных изображений в полевых условиях обеспечиваются структурой меню на основе Windows® CE. В моделях Fluke Ti40FT, Fluke Ti45FT применена новая технология IR-Fusion™. IR-Fusion позволяет получить видимое изображение одновременно с ИК-изображением, что облегчает задачу идентификации и анализа инфракрасных образов. Она позволяет легко выделить компоненты с возможными неисправностями и безошибочно определить участки, нуждающиеся в ремонте в первую очередь. Типичные области примененияFluke Ti40FT, Fluke Ti45FT: Профилактическое техобслуживание – выявление потенциальных проблем механических и электрических узлов оборудования до того, как они станут причиной отказа Техобслуживание промышленного оборудования – проверка эффективности ремонта и устранения неисправностей Контроль качества – изучение прототипов новых изделий для усовершенствования тепловых режимов Контроль за технологическими процессами – наблюдение в режиме реального времени для обеспечения эффективной и безопасной работы оборудования Тепловизор Fluke Ti40 Диапазон измеряемых температур: -20 ... 350 °С (2 поддиапазона). Разрешающая способность по температуре: 0,09 °С. Погрешность: ±2 °С / ±2%. Приемник излучения: неохлаждаемая микроболометрическая матрица 160х120 элементов. Спектральная чувствительность: 8 ... 14 мкм. Поле зрения 23°х17° (для стандартного объектива). Минимальное фокусное расстояние 15 см. Пространственное разрешение 2,6 мрад. Память для хранения термограмм: флеш-карта, достаточно для хранения более 1000 термограмм. Регулировка излучательной способности, компенсация отраженного излучения